Интегрально-оптический рефрактометр на основе канального металлодиэлектрического волновода: трехмерное моделирование

  • Векшин М.М. Кубанский государственный университет, Краснодар, Россия
  • Кулиш О.А. Кубанский государственный университет, Краснодар, Россия
  • Яковенко Н.А. Кубанский государственный университет, Краснодар, Россия
УДК: 621.383

Аннотация

Трехмерный метод распространяющегося пучка применен для моделирования волноводного датчика на основе эффекта плазмонного резонанса. Входная волноводная мода эффективно возбуждает комбинированную волноводно-плазмонную волну. Условия оптимальной связи подобраны путем модового анализа. Прямое фотометрическое детектирование вариаций показателя преломления ~0,00001 вполне реально.

Информация об авторах

Михаил Михайлович Векшин
канд. физ.-мат. наук, доцент кафедры оптоэлектроники физико-технического факультета Кубанского государственного университета
e-mail: vekshin@phys.kubsu.ru
Ольга Александровна Кулиш
аспирант кафедры оптоэлектроники физико-технического факультета Кубанского государственного университета
Николай Андреевич Яковенко
профессор кафедры оптоэлектроники, декан физико-технического факультета Кубанского государственного университета
e-mail: yna@phys.kubsu.ru

Литература

  1. www.biacore.com; www.affinity-sensors.com; www.ti.com/spreeta.
  2. Homola J., Yee S.S., Gauglitz G. Surface plasmon resonance sensors: review // Sensors and Actuators. B. 1999. Vol. 54. No. 13. P. 3-11.
  3. Vekshin M.M., Culish O.A., Yakovenko N.A. Integrated-optic refractometer on channel metal-clad waveguides: three-dimensional simulation and senstivity condiderations // Proceedings of SPIE. 2002. Vol. 4900. P. 447-450.
  4. Huang W.P., Xu C.L. Simulation of three-dimensional optical waveguides by a full-vector beam propagation method // IEEE Journal of Quantum Electronics. 1993. Vol. 29. P. 2639-2649.
  5. Stern M.S., Chaudhuri S.K. Full vectorial mode calculations by finite difference method // IEE Proceedings (Optoelectronics). 1994. Vol. 141. No. 5. P. 281-287.
  6. Weiss M.N., Srivastava R. Determination of ion-exchanged channek waveguide profile parameters by mode-index measurements // Applied Optics. 1995. Vol. 34. №3. P. 455-458.
Выпуск
Страницы
29-32
Прислано
2003-05-06
Опубликовано
2003-12-11

Наиболее читаемые статьи этого автора (авторов)

1 2 > >>