Особенности измерения S-параметров с помощью рефлектометров в диапазоне СВЧ

  • Коротков К.С. Кубанский государственный университет, Краснодар, Россия
  • Левченко А.С. Кубанский государственный университет, Краснодар, Россия
  • Мильченко Д.Н. Кубанский государственный университет, Краснодар, Россия
  • Гатченко М.А. Кубанский государственный университет, Краснодар, Россия
УДК: 621.317.74, 621.372.86

Аннотация

Рассматриваются особенности применения рефлектометров при измерениях комплексных коэффициентов передачи и отражения четырёхполюсников СВЧ. Показано, что величина коэффициента отражения испытуемой нагрузки влияет на величину собственных S-параметров входных портов и, как следствие, на сам результат измерения характеристик этой нагрузки. Обсуждается проблема уменьшения погрешностей измерений и увеличение диапазона измеряемых величин.

Ключевые слова: S-параметры, четырёхполюсник, радиоизмерительные приборы, СВЧ рефлектометр

Информация об авторах

Константин Станиславович Коротков
д-р техн. наук, профессор кафедры оптоэлектроники Кубанского государственного университета
e-mail: korsar@phys.kubsu.ru
Антон Сергеевич Левченко
канд. физ.-мат. наук, доцент кафедры оптоэлектроники Кубанского государственного университета
e-mail: poorly@mail.ru
Дмитрий Николаевич Мильченко
соискатель Кубанского государственного университета, генеральный директор ОАО "Компания Ритм"
e-mail: ritm@mail.kuban.ru
Максим Анатольевич Гатченко
студент Кубанского государственного университета, инженер ОАО "Компания Ритм"
e-mail: fmg-magnus@mail.ru

Литература

  1. Бецкий О.В., Лебедев Н.Н. Современные представления о механизмах воздействия низкоинтенсивных миллиметровых волн на биологические объекты // Миллиметровые волны в биологии и медицине. 2001. №3. C. 5-19.
  2. Ушаков В.Л., Алипов Е.Д., Щеглов В.С., Беляев И.Я. Особенности спектра действия микроволн частотного диапазона 51-52 ГГц на клетки // Радиационная биология. Радиоэкология. 2006. №6. C. 1-10.
  3. Лыньков Л.М., Богуш В.А., Борботько Т.В., Украинец Е.А., Колбун Н.В. Новые материалы для экранов электромагнитного излучения // Доклады БГУИР №3. 2004. Минск. С. 152-167.
  4. Reflectometer. Measurements - Revisited. Application Note 2000; Rev: B. anritsu US. URL: http://www.eu.anritsu.com/files/reflectometer_an.pdf.
  5. Силаев М.А., Брянцев Е.Ф. Приложение матриц и графов к анализу СВЧ устройств. М.: Советское радио, 1970. 248 с.
  6. Абубакиров Б.А., Гудков К.Г., Нечаев Э.В. Измерение параметров радиотехнических цепей. М.: Радио и связь, 1984. 248 с.
  7. Фельдштейн А.Л., Явич Л.Р., Смирнов В.П. Справочник по элементам волноводной техники. М.: Советское радио, 1967. 651 с.
  8. Астафьев Ш.Г., Шевченко И.Н., Мильченко Д.Н., Коньшев А.В. Системы и средства метрологического обеспечения эталонных и рабочих средств измерения параметров СВЧ трактов / Сб. статей по материалам VII всероссийской научно-технической конференции "Метрологическое обеспечение обороны и безопасности в РФ". Поведники, Моск. обл., 2008. C. 117-121.
Коротков К.С., Левченко А.С., Мильченко Д.Н., Гатченко М.А. Особенности измерения S-параметров с помощью рефлектометров в диапазоне СВЧ
Выпуск
Страницы
20-24
Прислано
2010-09-26
Опубликовано
2010-09-24

Наиболее читаемые статьи этого автора (авторов)