vestnik Экологический вестник научных центров Черноморского экономического сотрудничества Ecological Bulletin of Research Centers of the Black Sea Economic Cooperation 1729-5459 Кубанский государственный университет RU 345 Научная статья Original article Статьи Article Особенности измерения S-параметров с помощью рефлектометров в диапазоне СВЧ The features of measurement S-parameters by microwave-band reflectometers Коротков К.С. Коротков Константин Станиславович Korotkov Konstantin S. korsar@phys.kubsu.ru

д-р техн. наук, профессор кафедры оптоэлектроники Кубанского государственного университета

 Левченко А.С. Левченко Антон Сергеевич Levchenko Anton S. poorly@mail.ru

канд. физ.-мат. наук, доцент кафедры оптоэлектроники Кубанского государственного университета

 Мильченко Д.Н. Мильченко Дмитрий Николаевич Milchenko Dmitriy N. ritm@mail.kuban.ru

соискатель Кубанского государственного университета, генеральный директор ОАО "Компания Ритм"

 Гатченко М.А. Гатченко Максим Анатольевич Gatchenko Maksim A. fmg-magnus@mail.ru

студент Кубанского государственного университета, инженер ОАО "Компания Ритм"

 Кубанский государственный университет, КраснодарKuban State University, Krasnodar 24 09 2010 3 20 24 26 08 2010 07 09 2010 24 09 2010 Copyright (c) 2010 Коротков К.С., Левченко А.С., Мильченко Д.Н., Гатченко М.А. 2010 Коротков К.С., Левченко А.С., Мильченко Д.Н., Гатченко М.А. Это произведение доступно по лицензии Creative Commons «Attribution» («Атрибуция») 4.0 Всемирная.

The article observes application peculiarities of the microwave reflectometer for complex reflection and transmission coefficients measurement of a two-port device. It was shown that the amplitude of the reflection coefficient from the connected load influences at the magnitude of the S-parameters incoming ports that influences result of the load measurement. It also considers the metering error decreasing and the measurement dynamic range increasing.

Рассматриваются особенности применения рефлектометров при измерениях комплексных коэффициентов передачи и отражения четырёхполюсников СВЧ. Показано, что величина коэффициента отражения испытуемой нагрузки влияет на величину собственных S-параметров входных портов и, как следствие, на сам результат измерения характеристик этой нагрузки. Обсуждается проблема уменьшения погрешностей измерений и увеличение диапазона измеряемых величин.

 S-параметры четырёхполюсник радиоизмерительные приборы СВЧ рефлектометр S-parameters two-port device network analyzers microwave reflectometer Бецкий О.В., Лебедев Н.Н. Современные представления о механизмах воздействия низкоинтенсивных миллиметровых волн на биологические объекты // Миллиметровые волны в биологии и медицине. 2001. №3. C. 5-19. Ушаков В.Л., Алипов Е.Д., Щеглов В.С., Беляев И.Я. Особенности спектра действия микроволн частотного диапазона 51-52 ГГц на клетки // Радиационная биология. Радиоэкология. 2006. №6. C. 1-10. Лыньков Л.М., Богуш В.А., Борботько Т.В., Украинец Е.А., Колбун Н.В. Новые материалы для экранов электромагнитного излучения // Доклады БГУИР №3. 2004. Минск. С. 152-167. Reflectometer. Measurements - Revisited. Application Note 2000; Rev: B. anritsu US. URL: http://www.eu.anritsu.com/files/reflectometer_an.pdf. Силаев М.А., Брянцев Е.Ф. Приложение матриц и графов к анализу СВЧ устройств. М.: Советское радио, 1970. 248 с. Абубакиров Б.А., Гудков К.Г., Нечаев Э.В. Измерение параметров радиотехнических цепей. М.: Радио и связь, 1984. 248 с. Фельдштейн А.Л., Явич Л.Р., Смирнов В.П. Справочник по элементам волноводной техники. М.: Советское радио, 1967. 651 с. Астафьев Ш.Г., Шевченко И.Н., Мильченко Д.Н., Коньшев А.В. Системы и средства метрологического обеспечения эталонных и рабочих средств измерения параметров СВЧ трактов / Сб. статей по материалам VII всероссийской научно-технической конференции "Метрологическое обеспечение обороны и безопасности в РФ". Поведники, Моск. обл., 2008. C. 117-121.