<?xml version="1.0" encoding="UTF-8"?>
<article
			xmlns:xlink="http://www.w3.org/1999/xlink"
			xmlns:mml="http://www.w3.org/1998/Math/MathML"
			xmlns:xsi="http://www.w3.org/2001/XMLSchema-instance"
			
			xml:lang="ru">
			<front>
			<journal-meta>
				<journal-id journal-id-type="ojs">vestnik</journal-id>
				<journal-title-group>
					<journal-title xml:lang="ru">Экологический вестник научных центров Черноморского экономического сотрудничества</journal-title>
					<trans-title-group xml:lang="en">
						<trans-title>Ecological Bulletin of Research Centers of the Black Sea Economic Cooperation</trans-title>
					</trans-title-group>
				</journal-title-group>
			<issn pub-type="ppub">1729-5459</issn>
			<publisher>
				<publisher-name>Кубанский государственный университет</publisher-name>
				<publisher-loc>RU</publisher-loc>
			</publisher>
			<self-uri xlink:href="https://vestnik.kubsu.ru/" />
		</journal-meta>
		<article-meta>
			<article-id pub-id-type="publisher-id">451</article-id>
			<article-categories>
				<subj-group xml:lang="ru" subj-group-type="heading"><subject>Научная статья</subject></subj-group>
				<subj-group xml:lang="en" subj-group-type="heading"><subject>Original article</subject></subj-group>
				<subj-group xml:lang="ru"><subject>Статьи</subject></subj-group>
				<subj-group xml:lang="en"><subject>Article</subject></subj-group>
			</article-categories>
			<title-group>
				<article-title xml:lang="ru">Колебательная система релаксационного типа на основе полупроводниковых структур с поверхностно-барьерным переходом</article-title>
				<trans-title-group xml:lang="en">
					<trans-title>Oscillatory system of relaxation type on the base semiconductor structures with surface-barrier junction</trans-title>
					</trans-title-group>
			</title-group>
			<contrib-group content-type="author">
				<contrib >
					<name-alternatives>
						<string-name specific-use="display">Богатов Н.М.</string-name>
						<name name-style="western" specific-use="primary" xml:lang="ru">
							<surname>Богатов</surname>
							<given-names>Николай Маркович</given-names>
						</name>
						<name name-style="western" xml:lang="en">
							<surname>Bogatov</surname>
							<given-names>Nikolay M.</given-names>
						</name>
					</name-alternatives>
					<xref ref-type="aff" rid="aff-1" />
					<email>bogatov@phys.kubsu.ru</email>
					<bio xml:lang="ru"><p>д-р физ.-мат. наук, профессор, заведующий кафедрой физики и информационных систем Кубанского государственного университета</p></bio>
				</contrib>
				<contrib >
					<name-alternatives>
						<string-name specific-use="display">Григорьян Л.Р.</string-name>
						<name name-style="western" specific-use="primary" xml:lang="ru">
							<surname>Григорьян</surname>
							<given-names>Леонтий Рустемович</given-names>
						</name>
						<name name-style="western" xml:lang="en">
							<surname>Grigoryan</surname>
							<given-names>Leontiy R.</given-names>
						</name>
					</name-alternatives>
					<xref ref-type="aff" rid="aff-1" />
					<email>leonmezon@mail.ru</email>
					<bio xml:lang="ru"><p>канд. физ.-мат. наук, доцент кафедры физики и информационных систем Кубанского государственного университета</p></bio>
				</contrib>
				<contrib >
					<name-alternatives>
						<string-name specific-use="display">Куликов О.Н.</string-name>
						<name name-style="western" specific-use="primary" xml:lang="ru">
							<surname>Куликов</surname>
							<given-names>Олег Николаевич</given-names>
						</name>
						<name name-style="western" xml:lang="en">
							<surname>Kulikov</surname>
							<given-names>Oleg N.</given-names>
						</name>
					</name-alternatives>
					<xref ref-type="aff" rid="aff-1" />
					<email>oleg_kulik@mail.ru</email>
					<bio xml:lang="ru"><p>соискатель кафедры физики и информационных систем Кубанского государственного университета</p></bio>
				</contrib>
			</contrib-group>
			<aff id="aff-1"><institution content-type="orgname" xml:lang="ru">Кубанский государственный университет, Краснодар</institution><institution content-type="orgname" xml:lang="en">Kuban State University, Krasnodar</institution></aff>
			<pub-date date-type="pub" iso-8601-date="2012-12-25" publication-format="ppub">
				<day>25</day>
				<month>12</month>
				<year>2012</year>
			</pub-date>
			<issue>4</issue>
				<fpage>17</fpage>
				<lpage>22</lpage>
			<history>
				<date date-type="received" iso-8601-date="2012-02-17">
					<day>17</day>
					<month>02</month>
					<year>2012</year>
				</date>
				<date date-type="accepted" iso-8601-date="2012-04-05">
					<day>05</day>
					<month>04</month>
					<year>2012</year>
				</date>
				<date date-type="pub" iso-8601-date="2012-12-25">
					<day>25</day>
					<month>12</month>
					<year>2012</year>
				</date>
			</history>
			<permissions>
				<copyright-statement>Copyright (c) 2012 Богатов Н.М., Григорьян Л.Р., Куликов О.Н.</copyright-statement>
				<copyright-year>2012</copyright-year>
				<copyright-holder>Богатов Н.М., Григорьян Л.Р., Куликов О.Н.</copyright-holder>
				<license xlink:href="https://creativecommons.org/licenses/by/4.0">
					<license-p>Это произведение доступно по лицензии Creative Commons «Attribution» («Атрибуция») 4.0 Всемирная.</license-p>
				</license>
			</permissions>
			<self-uri xlink:href="https://vestnik.kubsu.ru/article/view/451" />
			<abstract xml:lang="en">
				<p>In this paper we suggest the equivalent circuit of semiconductor structure, with help of which the analytical expression for the period of current and voltage oscillations has been obtained. We investigated the influence of surface-barrier junction contact capacity type on duration of separate phases of a current passing through the semiconductor structure. We obtained correlation between chemical composition of the semiconductor used for manufacturing semiconductor structure samples and frequency of current and voltage oscillations</p>
			</abstract>
			<abstract xml:lang="ru">
				<p>Предложена эквивалентная схема полупроводниковой структуры с поверхностно-барьерным переходом, с помощью которой получено аналитическое выражение для периода колебаний тока и напряжения. Изучено влияние типа емкости контакта с поверхностно-барьерным переходом на длительность отдельных фаз протекания тока через полупроводниковую структуру. Выявлена взаимосвязь между химическим составом полупроводника, используемого для изготовления образцов полупроводниковых структур с поверхностно-барьерным переходом и частотой колебаний тока и напряжения.</p>
			</abstract>
			<kwd-group xml:lang="ru">
				<kwd>полупроводниковая структура</kwd>
				<kwd>поверхностно-барьерный переход</kwd>
			</kwd-group>
			<kwd-group xml:lang="en">
				<kwd>semiconductor structure</kwd>
				<kwd>surface-barrier junction</kwd>
			</kwd-group>
			<counts><page-count count="6" /></counts>
		</article-meta>
	</front>
	<body></body>
	<back>
		<ref-list>
			<ref id="R1"><mixed-citation><italic>Косман М.С., Муравский Б.С.</italic> Возникновение колебаний тока в кремнии при высоких импульсных напряжениях // ФТТ. 1961. Т. 3. №11. С. 2504-2506.</mixed-citation></ref>
			<ref id="R2"><mixed-citation><italic>Муравский Б.С.</italic> Исследование аномальных характеристик точечных контактов с поверхностью германия и кремния // ФТТ. 1962. Т. 9. №4. С. 2485-2489.</mixed-citation></ref>
			<ref id="R3"><mixed-citation><italic>Муравский Б.С. Кузнецов В.И., Фризен Г.И., Черный В.Н.</italic> Исследование кинетики поверхностно-барьерной неустойчивости тока // ФТП. 1972. Т. 6. С. 2114-2122.</mixed-citation></ref>
			<ref id="R4"><mixed-citation><italic>Муравский Б.С., Куликов О.Н.</italic> Рекомбинационная неустойчивость тока в эпитаксиальных p+-n-структурах с локально введенными в n-область примесными атомами и определение параметров глубоких центров на ее основе // ФТП. 2003. Т. 37. В. 4. С. 393-397.</mixed-citation></ref>
			<ref id="R5"><mixed-citation><italic>Муравский Б.С., Рубцов Г.П., Григорьян Л.Р., Куликов О.Н.</italic> Электрофизические и фотоэлектрические своцства транзисторных структур с распределенным эмиттером и функциональные приборы на их основе // Журнал радиоэлектроники 2000 №10. http://jre.cplire.ru/win/oct00/2/text.html.</mixed-citation></ref>
			<ref id="R6"><mixed-citation><italic>Муравский Б.С.</italic> Неравновесные процессы и токовая неустойчивость в контактах металл-полупроводник: Дисс. … д-ра физ.-мат. наук, 1983. Л. 413 с.</mixed-citation></ref>
			<ref id="R7"><mixed-citation><italic>Андронов А.А., Витт А.А., Хайкин С.Э.</italic> Теория колебаний. М. Наука. 1981. 915 с.</mixed-citation></ref>
			<ref id="R8"><mixed-citation><italic>Мигулин В.В., Медведев В.И., Мустель Е.Р., Парыгин В.Н.</italic> Основы теории колебаний. М.: Наука. 1978. 392 с.</mixed-citation></ref>
			<ref id="R9"><mixed-citation><italic>Бессонов Л.А.</italic> Теоретические основы электротехники. Электрические цепи. М.: Высшая школа. 1984. 528 с.</mixed-citation></ref>
			<ref id="R10"><mixed-citation><italic>Зи С.</italic> Физика полупроводниковых приборов. 2 т. М.: Мир. 1984. 912 с.</mixed-citation></ref>
			<ref id="R11"><mixed-citation><italic>Викулин И.М., Стафеев В.И.</italic> Физика полупроводниковых приборов. М.: Советское радио. 1980. 296 с.</mixed-citation></ref>
		</ref-list>
	</back>
</article>