A sensor system for the scanning of parameters of thin metal films

Authors

  • Levchenko A.S. Kuban State University, Krasnodar, Российская Федерация
  • Seryogina N.N. Kuban State University, Krasnodar, Российская Федерация

UDC

53.082.53

Abstract

A concept of scanning Surface Plasmon Resonance sensor system is presented. It has been shown that the analysis method and construction features of the sensor system make it possible to obtain information about the dielectric permittivity and thickness of a thin metal film on every its elementary section. The description of data operations is given for thin films measurements. The possibility of the system application in the chemical kinetic research is also pointed out.

Author Infos

Anton S. Levchenko

аспирант кафедры оптоэлектроники Кубанского государственного университета

Natalya N. Seryogina

аспирантка кафедры оптоэлектроники Кубанского государственного университета

References

  1. Андреев С.В., Губанова Л.А. Определение оптических постоянных металлических слоев. Оптические и лазерные технологии / Сб. статей под ред. В. Н. Васильева. СПб. 2001. С. 198-203.
  2. Хомченко А.В., Сотский А.Б., Романенко А.А. Глазунов Е.В. Шульга А.В. Волноводный метод измерения параметров тонких пленок // ЖТФ. 2005. Т. 75. Вып. 6. С. 98-105.
  3. Поверхностные поляритоны. Электромагнитные волны на поверхностях и границах раздела сред / Под ред. В.М. Аграновича, Д.М. Миллса. М.: Наука, 1985. 525 с.
  4. Bruijn, de H.E., Kooyman R.P.H., Greve J. Determination of dielectric permittivity and thickness of a metal layer from a surface plasmon resonance experiment // Applied optics. 1990. Vol. 29. No 13. P. 1974-1978.
  5. Bruijn, de H.E., Altenburg B.S.F., Kooyman R.P.H., Greve J. Determination of thickness and dielectric constant of thin transparent dielectric layers using Surface Plasmon Resonance // Optics communications. 1991. Vol. 82. No 5,6. P. 425-432.
  6. Серегина Н.Н., Романова Л.И., Векшин М.М. Микрооптические биосенсоры: методы практической реализации / Кубанский гос. университет. Краснодар, 2003. 42 с. Деп. в ВИНИТИ 3.04.2003, №610-B2003.

Downloads

Issue

2006. No. 1

Section

Physics

Pages

92-95

Submitted

2006-01-10

Published

2006-03-30

How to Cite

Levchenko A.S., Seryogina N.N. A sensor system for the scanning of parameters of thin metal films. Ecological Bulletin of Research Centers of the Black Sea Economic Cooperation, 2006, no. 1, pp. 92-95. (In Russian)

Copyright (c) 2006 Levchenko A.S., Seryogina N.N.

Creative Commons License

This work is licensed under a Creative Commons Attribution 4.0 International License.