Modeling of the radiation-induced formation of nano-sized defects in silicon
UDC
538.97; 548.571; 548.4Abstract
The model of formation and degradation of the radiation-induced defects like vacancies and bi-vacancies is developed. That is assumed that "hot" vacancies which characterized by the non-equilibrium electron distribution in the valence bonds is appearing with the help of ionizing radiation action. The behavior of these 'hot' vacancies generally differs from thermo dynamical equilibrium of 'cold' vacancies in the silicon. The kinetics of the formation and degradation of the bi-vacancies is researched.
Keywords:
vacancy, bi-vacancy, silicon, radiation-induced formation of defects, concentrationReferences
- Пагава Т.А. Влияние температуры облучения на эффективность введения мультивакансионных дефектов в кристаллах n-Si // ФТП. 2006. Т. 40. Вып. 8. С. 919-921.
- Антонова И.В., Шаймеев С.С., Смагулова С.А. Трансформация при отжиге электрически активных дефектов в кремнии, имплантированном ионами высоких энергий // ФТП. 2006. Т. 40. Вып. 5. С. 557-562.
- Азаров А.Ю., Титов А.И. Накопление структурных нарушений в кремнии при облучении кластерными ионами PFn+ средних энергий // ФТП. 2007. Т. 41. Вып. 1. С. 7-12.
- Бадылевич М.Ю., Блохин И.В., Головин Ю.И., Дмитриевский А.А., Карцев С.В., Сучкова Н.Ю., Толотаев М.Ю. Немонотонные изменения концентраций радиационных дефектов донорного и акцепторного типа в кремнии, индуцируемые потоками β-частиц малой интенсивности // ФТП. 2006. Т. 40. Вып. 12. С. 1409-1411.
- Мурин Л.И., Маркевич В.П., Медведева И.Ф., Dobaczewski L. Бистабильность и электрическая активность комплекса вакансия-два атома кислорода в кремнии // ФТП. 2006. Т. 40. Вып. 11. С. 1316-1320.
- Баранов П.Г., Ионов А.Н., Ильин И.В., Копьев П.С., Мохов Е.Н., Храмцов В.А. Электронный парамагнитный резонанс в нейтронно-легированных полупроводниках с измененным изотопным составом // ФТТ. 2003. Т. 45. Вып. 6. С. 984-995.
- Пагава Т.А. Влияние зарядового состояния неравновесных вакансий на природу радиационных дефектов в кристаллах n-Si // ФТП. 2005. Т. 39. Вып. 4. С. 424-425.
- Пагава Т.А., Башелейшвили З.В. Влияние интенсивности облучения на эффективность введения радиационных дефектов в кристаллах i n- и р-типа // ФТП. 1999. Т. 33. Вып. 5. С. 542-543.
- Пагава Т.А. Влияние температуры облучения на эффективность введения мультивакансионных дефектов в кристаллах n-Si // ФТП. 2006. Т. 40. Вып. 8. С. 915-917.
- Онищук С.А. Деградация солнечных элементов при облучении протонами. Материалы четвертой южнороссийской научной конференции "Энерго- и ресурсосберегающие технологии и установки". Краснодар: КВВАУЛ, 2005. С. 153-156.
- Онищук С.А., Климова Г.И., Шкаранда В.А. Облучение радиационностойких солнечных элементов потоком протонов. Материалы Международной дистанционной научно-практической конференции "Процессы и явления в конденсированных средах". Краснодар: Кубанский гос. ун-т, 2005. С. 45-57.
- Онищук С.А. Деградация солнечных элементов при нейтронном и протонном облучении // Известия высших учебных заведений. Поволжский регион. Физико-математические науки. 2007. №2. С. 40-48.
- Светухин В.В., Сидоренко О.Г. К вопросу о моделировании радиационного упрочнения и радиационного охрупчивания металлов и сплавов // Известия высших учебных заведений. Поволжский регион. Физико-математические науки. 2007. №2. С.49-58.
- Вавилов В.С., Кив А.Е., Ниязова О.Р. Механизмы образования и миграции дефектов в полупроводниках. М.: Наука. Главная редакция физико-математической литературы, 1981. 368 с.
- Бурштейн А.И. Концентрационное тушение некогерентных возбуждений в растворах // УФН, 1984. Т. 143. Вып. 4. С. 553-600.
Downloads
Submitted
Published
How to Cite
Copyright (c) 2009 Onishchuk S.A., Tumayev E.N.
![Creative Commons License](http://i.creativecommons.org/l/by/4.0/88x31.png)
This work is licensed under a Creative Commons Attribution 4.0 International License.