The features of measurement S-parameters by microwave-band reflectometers

Authors

  • Korotkov K.S. Kuban State University, Krasnodar, Russian Federation
  • Levchenko A.S. Kuban State University, Krasnodar, Russian Federation
  • Milchenko D.N. Kuban State University, Krasnodar, Russian Federation
  • Gatchenko M.A. Kuban State University, Krasnodar, Russian Federation

UDC

621.317.74, 621.372.86

EDN

NBYPFV

Abstract

The article observes application peculiarities of the microwave reflectometer for complex reflection and transmission coefficients measurement of a two-port device. It was shown that the amplitude of the reflection coefficient from the connected load influences at the magnitude of the S-parameters incoming ports that influences result of the load measurement. It also considers the metering error decreasing and the measurement dynamic range increasing.

Keywords:

S-parameters, two-port device, network analyzers, microwave reflectometer

Authors info

  • Konstantin S. Korotkov

    д-р техн. наук, профессор кафедры оптоэлектроники Кубанского государственного университета

  • Anton S. Levchenko

    канд. физ.-мат. наук, доцент кафедры оптоэлектроники Кубанского государственного университета

  • Dmitriy N. Milchenko

    соискатель Кубанского государственного университета, генеральный директор ОАО "Компания Ритм"

  • Maksim A. Gatchenko

    студент Кубанского государственного университета, инженер ОАО "Компания Ритм"

References

  1. Бецкий О.В., Лебедев Н.Н. Современные представления о механизмах воздействия низкоинтенсивных миллиметровых волн на биологические объекты // Миллиметровые волны в биологии и медицине. 2001. №3. C. 5-19.
  2. Ушаков В.Л., Алипов Е.Д., Щеглов В.С., Беляев И.Я. Особенности спектра действия микроволн частотного диапазона 51-52 ГГц на клетки // Радиационная биология. Радиоэкология. 2006. №6. C. 1-10.
  3. Лыньков Л.М., Богуш В.А., Борботько Т.В., Украинец Е.А., Колбун Н.В. Новые материалы для экранов электромагнитного излучения // Доклады БГУИР №3. 2004. Минск. С. 152-167.
  4. Reflectometer. Measurements - Revisited. Application Note 2000; Rev: B. anritsu US. URL: http://www.eu.anritsu.com/files/reflectometer_an.pdf.
  5. Силаев М.А., Брянцев Е.Ф. Приложение матриц и графов к анализу СВЧ устройств. М.: Советское радио, 1970. 248 с.
  6. Абубакиров Б.А., Гудков К.Г., Нечаев Э.В. Измерение параметров радиотехнических цепей. М.: Радио и связь, 1984. 248 с.
  7. Фельдштейн А.Л., Явич Л.Р., Смирнов В.П. Справочник по элементам волноводной техники. М.: Советское радио, 1967. 651 с.
  8. Астафьев Ш.Г., Шевченко И.Н., Мильченко Д.Н., Коньшев А.В. Системы и средства метрологического обеспечения эталонных и рабочих средств измерения параметров СВЧ трактов / Сб. статей по материалам VII всероссийской научно-технической конференции "Метрологическое обеспечение обороны и безопасности в РФ". Поведники, Моск. обл., 2008. C. 117-121.

Downloads

Download data is not yet available.

Issue

Pages

20-24

Section

Article

Dates

Submitted

August 26, 2010

Accepted

September 7, 2010

Published

September 24, 2010

How to Cite

[1]
Korotkov, K.S., Levchenko, A.S., Milchenko, D.N., Gatchenko, M.A., The features of measurement S-parameters by microwave-band reflectometers. Ecological Bulletin of Research Centers of the Black Sea Economic Cooperation, 2010, № 3, pp. 20–24.

Similar Articles

1-10 of 52

You may also start an advanced similarity search for this article.